GJB 6259-2008 碲镉汞探测器晶片用直粘型抛光布规范
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ID： |
8FD37084742B4DFF854D2145A202A65B |
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0.32 |
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6 |
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日期： |
2024-7-14 |
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Ojo,中华人民共和国国家军用标准,FL 6250 GJB 6259-2008,瑞镉汞探测器晶片用直粘型抛光布规范,Specification for self-adhesive polishing pad used for polishing of Te-Cd-Hg,crysal wafer,2008-03-17 发布2008-10-01 实施,国防科学技术工业委员会发布,GJB 6259-2008,_u_ _?— 刖 百,本规范由原国家经贸委军品配套办公室提出,本规范由全国塑料制品标准化中心归口,本规范起草单位：上海益民合成革厂,本规范主要起草人：陈有文、顾广发、俞秀娟、陈富宝、崔 灵,GJB 6259-2008,硫镉汞探测器晶片用直粘型抛光布规范,1范围,本规范规定了繇镉汞探测器晶片用直粘型抛光布的要求、质量保证规定和交货准备等,本规范适用于碇镉汞探测器晶片用直粘型抛光布精抛用的直粘型抛光布（以下简称抛光布）,2规范性引用文件,下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的,修改单（不包含勘误的内容）或修订版均不适用于本规范，然而，鼓励根据本规范达成协议的各方研究是,否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本规范,GB/T 2411-1980塑料邵氏硬度试验方法,GB/T 2792-1998压敏胶粘带180。剥离强度试验方法,GB/T 2918-1998塑料试样状态调节和试验的标准环境,GB/T 13022-1991塑料薄膜拉伸性能试验方法,QB/T 3812.4-1999皮革物理性能测试厚度的测定,3要求,3. 1原材料,聚酯或聚酯/聚酰胺纤维混和制成的非织造布，聚酯型聚氨酯和丙烯酸酯型双面压敏胶带,3.2 表面微孔状态,表面微孔内宽应不大于30叩1,长应不大于120pn,超出此范围的微孔个数应不大于20%,3.3 拉伸强度,拉伸强度不小于100N/25mm,3.4 剥离强度,剥离强度不小于8N/25mm,3.5 尺寸规格,抛光布厚度为1.6mm±0.2mm,直径为250mm,其它尺寸规格由供需双方协商确定,3. 6邵氏硬度（A）,邵氏硬度为65.75,3. 7外观质量,抛光布表面清洁、平整、绒感均匀,4质量保证规定,4.1 检验分类,本规范规定的检验分为：,a）鉴定检验；,b）质量一致性检验,4.2 检验条件,除另有规定外，试验状态调节和试验环境应按GB/T 2918-1998中的标准环境与正常偏差范围规,定，试样状态调节时间不小于4h,4. 3鉴定检验,1,GJB 6259-2008,4. 3. 1检验项目,检验项目见表lo,表1检验项目表,序号检验项目鉴定检验质量一致性检验要求章条号检验方法章条号,1 表面微孔状态?— 3.2 4.5.1,2 拉伸强度■ 一3.3 4.5.2,3 压敏胶1800剥离强度■ ?3.4 4.5.3,4 尺寸规格丒■ 3.5 454,5 邵氏硬度(A) ?■ 3.6 4.5.5,6 外观质量■ ■ 3.7 4.5.6,注: ?检验项目：一不检项目,4. 3.2受检样品数,鉴定检验的样品数量为5片,4. 3.3合格判据,检验结果符合第3章的全部要求为鉴定检验合格,4.4质量一致性检验,4. 4. 1检验项目,检验项目见表1,4. 4.2组批和抽样,用相同原材料，按相同工艺连续生产的100片为一检验批，不足100片按100片计，从中随机抽取,5片检验,4. 4.3合格判据,抽样的样品，若检验全部合格，则判该检验批为全部合格产品。若有不合格项，应在原批产品中加,倍抽样，对不合格项进行复验，复验结果全部合格，则判该产品为合格,4.5检验方法,4. 5. 1表面微孔状态,100mmX 100mm试样，用放大40倍的显微镜观察试样表面，测量微孔内最大间距。 ,4. 5.2拉伸强度,按GB/T 13022-1991的规定进行；试样为IV型长条形试样，尺寸150mmX 150mm,夹距为100mm,试验速度为100mm/min,4. 5. 3剥离强度,按GB/T 2792-1998规定进行,4. 5.4厚度,按 QB/T 3812.4-1999 规定进行,4. 5. 5邵氏硬度,按GB/T 2411-1980规定进行，试样为50mmX50mm的正方形，厚度为产品厚度，用邵氏A硬度,计测定,4. 5.6外观质量,在自然光线或日光灯下，视距300mm.400mm,以手感目测的方法进行,5交货准备,5. 1包装,2,GJB 6259-2008,抛光布每片用塑料袋包装，每包为10片，并附有合格证和使用说明，装人硬纸盒内,5.2 储存,抛光布应在清洁、干燥环境中存放，避免阳光直射，并远离热源，不应接触酸、碱等腐蚀性物质,以防止抛光布受到侵蚀损伤或变质，抛光布在储存条件下的储存期为半年,5.3 运输,抛光布在运输中应轻装轻卸、切勿重压、日晒雨淋、污染，保持包装完整,5.4 标志,包装盒上应有标志，标明标准代号、产品名称、尺寸规格、数量、厂名、厂址、批号或生产日期及,防压、防潮、防晒等,6说明事项,6. 1预定用途,本规范规定的抛光布预定用于降镉汞探测器晶片精抛光，也可用于其他晶片材料的精抛光,6.2订购文件中应明确的内容,订购文件中应规定以下内容：,a）本规范名称和编号；,b）订货规格、数量；,c）与本规范要求不同或未规定的其它要求,3,800Z—69a9,afe,中华人民共和国,国家军用标准,端镉汞探测器晶片用直粘型,抛光布规范,GJB 6259-2008,*,国防科工委军标出版发行部出版,……
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